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GB/T 17626.1-2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论

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  • 发布时间:2014/10/27 9:34:40
  • 作者:银河电气

      GB/T 17626.1-2006 电磁兼容试验和测量技术 抗扰度试验总论为GB/T 17626 电磁兼容 试验和测量技术系列标准的第一部分。
      GB/T 17626.1-2006  电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论涵盖了电气和电子设备(装置和系统)在其电磁环境中的试验和测量技术。
      在过去,机电装置和系统对电磁骚扰(即传导、辐射电磁骚扰和静电放电)并不敏感。目前所使用的电子元件和设备对这些骚扰则要敏感的多,尤其是对“高频”和“瞬态”现象。由于电子元件和设备以惊人的速度投入运行,电的和电磁的骚扰引起的严重误操作、损坏等危险也随之增加。
      有关专业标准化技术委员会(或用户和设备制造商)需负责从GB/T 17626系列标准中选择适当的抗干扰度试验项目及设备适用的试验等级。但是为了提高这项工作的协调和标准化,专业标准化技术委员会或用户、制造商应考虑GB/T 17626.1-2006  电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论所给出的建议。
      GB/T 17626.1-2006  电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论等同采用IEC61000-4-1(2000)《电磁兼容第四部分:试验和测量技术 第一部分:抗扰度试验总论》。
      GB/T 17626.1-2006  电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论自实施之日起代替GB/T 17626.1-1998《电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论》。